Auteur(s): Blin Stéphane, Teppe F., Tohme Lucie, Hisatake Shintaro, Arakawa Kazuki, Nouvel Philippe, Coquillat D., Pénarier Annick, Torres Jeremie, Varani Luca, Knap W., Nagatsuma Tadao

(Article) Publié: Ieee Electron Device Letters, vol. 33 p.1354 - 1356 (2012)